KIST开发使用太赫兹波检查OLED发射器的无损方法

    据韩国媒体报道，韩国科学技术研究院 (KIST)的研究人员提出了一种使用太赫兹波光谱检查OLED发射器材料的新方法。

    研究人员表示，这种方法可用于分析OLED的传输特性，而不会对材料造成任何损坏。这与当前的荧光测试方法不同，因为紫外线会改变其特性，从而对OLED造成损害。

    更准确的检测方法可以帮助开发人员提高OLED材料的性能，因其可以比现有方法更准确地分析OLED设备的性能退化。